Electronic News
sharing electronic news...
2014年3月25日 星期二
Teardown: Samsung 2x nm LPDDR3 DRAM Scales Memory Wall
TechInsights tears down Samsung's 2x nm LPDDR3 DRAM to find a thin die with large memory density.
from EETimes: http://ift.tt/1hoTcl2
via
Yuichun
沒有留言:
張貼留言
較新的文章
較舊的文章
首頁
訂閱:
張貼留言 (Atom)
沒有留言:
張貼留言